激光納米粒度分析儀

激光納米粒度分析儀Litesizer 500

點擊按鍵進(jìn)行粒度分析

Litesizer 500 是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微顆粒的儀器。它可通過測量動態(tài)光散射 (DLS)、電泳光散射 (ELS) 和靜態(tài)光散射 (SLS) 來測定顆粒尺寸、zeta 電位和分子量。

此外，Litesizer™ 500 是一款基于 DLS 的顆粒分析儀可以對樣品的折光率進(jìn)行簡潔明了的測量。

Litesizer 500 的一個亮點是其設(shè)計巧妙的簡單軟件。我們已創(chuàng)建了可將輸入?yún)?shù)、結(jié)果和分析集中到單個頁面上的一頁式工作流程：您可以在數(shù)秒內(nèi)完成試驗設(shè)置，只需簡單按鍵即可得出所需的分析結(jié)果和報告。

激光納米粒度分析儀Litesizer 500關(guān)鍵功能

可自動測量連續(xù)的透射比

通過透光率，您可以立即獲得樣品反饋并自動優(yōu)化測量參數(shù)（角度、聚焦位置和測量持續(xù)時間）。

精確確定折光率

雖然對于大部分顆粒分析儀而言，這些指數(shù)必須通過外部來源來確定，但 Litesizer 500 能夠測量您的試驗的精確波長和溫度的折光率。這確保了在所有試驗條件下，獲得高精確度的粒徑和 zeta 電位值。

Litesizer 500 確定的溶劑折光率的誤差在 ±0.5 % 之內(nèi)，符合 ISO 22412:2017 規(guī)定的 DLS 所需折光率精度。

顆粒尺寸測量：超高分辨率

固件采用了非常*的算法，因此可以精確測量單一懸浮液中幾種不同的顆粒尺寸。

cmPALS – 新的 zeta 電位技術(shù)

憑借 cmPALS技術(shù)，在相當(dāng)短的測量時間內(nèi)以及更低的應(yīng)用電場下即可進(jìn)行測量，從而對極其敏感的樣品進(jìn)行可靠測量。

*的 Ω 形 zeta 電位毛細(xì)管

由于zeta電位樣品池具有*的 Ω 形毛細(xì)管，因此測量結(jié)果更為穩(wěn)定且更可再現(xiàn)。

簡單智能的軟件 - Kalliope™

Kalliope™ 提供一頁式工作流，輸入?yún)?shù)、測量和分析唾手可得。Kalliope™ *符合 FDA 的 21 CFR Part 11 法規(guī)要求。