瑞士萬通XDS IOPA 近紅外光譜分析儀
簡要描述：瑞士萬通XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗(yàn)、縮短產(chǎn)品滯留時(shí)間，小化實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間而設(shè)計(jì)的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)監(jiān)測，并作為中試過程應(yīng)用的補(bǔ)充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。
產(chǎn)品型號(hào)：XDS Interactance OptiProb- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間：2025-11-12
- 訪 問 量：8378
產(chǎn)品概述
| 品牌 | Metrohm/瑞士萬通 | 儀器種類 | 實(shí)驗(yàn)室級(jí)別 |
|---|---|---|---|
| 儀器原理 | 在線、便攜式 | 價(jià)格區(qū)間 | 100萬-200萬 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,石油,制藥/生物制藥 |
瑞士萬通XDS IOPA 近紅外光譜分析儀簡介
儀器特性及優(yōu)勢• XDS NIR 技術(shù)確保使用簡單和定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移• 快速斷開式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測量• 無需樣品制備，無需試劑。可快速無損地分析固體粉末、較大顆粒、丸劑或片劑。材料測定或成分檢測可在實(shí)驗(yàn)室中或以在線方式對原包裝中、袋子或樣品瓶中的樣品進(jìn)行。選裝的可調(diào)光點(diǎn)尺寸，可根據(jù)樣品的物理屬性來調(diào)整樣品照明。
XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗(yàn)、縮短產(chǎn)品滯留時(shí)間，小化實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間而設(shè)計(jì)的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)監(jiān)測，并作為中試過程應(yīng)用的補(bǔ)充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設(shè)計(jì)允許其在苛刻危險(xiǎn)的取樣環(huán)境中直接使用。
XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能，同時(shí)加快了了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移。使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision®軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成精準(zhǔn)的分析。
瑞士萬通XDS IOPA 近紅外光譜分析儀特性及優(yōu)勢
• XDS NIR 技術(shù)確保使用簡單和定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移
• 快速斷開式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測量
• 無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物
• 面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀
• 熱插拔模塊 — 幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會(huì)影響性能
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